【数据处理】如何通过紫外可见吸收光谱（UV-Vis）的数据计算材料的带隙
半导体能带结构计算。以及得到紫外可见漫反射UV-vis图后的Tauc图推算。直接间隙半导体和间接间隙半导体的区别就是纵坐标的1/2和2.
紫外数据处理
origin紫外数据处理，Tacu plot拟合带隙
固体紫外吸收及半导体带隙的计算
使用Origin根据光吸收计算材料禁带宽度
如何用origin8.5做出化合物美观的溶剂依赖性的谱图(UV−vis absorption and emission)
数据归一化（自用）
129-Origin光谱数据处理-批量平滑数据替代软件
UV-Vis数据处理演示
紫外-可见漫反射（UV-vis），Tauc曲线，带隙Eg
06. XRD Origin做图详解（语音讲解）
【自用】使用Origin处理紫外可见光漫反射数据求禁带宽度
使用origin做切线求斜率的方法
如何使用Origin绘制红外光谱图FT-IR
傅里叶红外光谱图（FTIR）
从XRD原始数据处理到origin绘图过程详解
UPS 怎么求价带 作图 （自用）
24-5-26 紫外数据处理
origin一步画曲线切线
