低能离子散射能谱（LEIS）简介_哔哩哔哩_bilibili

Name: 低能离子散射能谱（LEIS）简介
Uploaded: 2020-05-25T04:20:37.000Z
Duration: 3 min 59 s
Channel: IONTOF-CHINA
Description: 低能离子散射能谱（LEIS）简介： LEIS是一种表面分析技术，主要用于定量分析材料最外层原子层的元素组成。

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低能离子散射能谱（LEIS）简介：LEIS是一种表面分析技术，主要用于定量分析材料最外层原子层的元素组成。, 视频播放量 794、弹幕量 0、点赞数 9、投硬币枚数 2、收藏人数 10、转发人数 5, 视频作者 IONTOF-CHINA, 作者简介 北京艾飞拓科技有限公司（德国 IONTOF 中国代表处），相关视频：飞行时间二次离子质谱（TOF-SIMS）原理，飞行时间二次离子质谱（ToF-SIMS）简介 — — 华盛顿大学分子分析设备（UWMAF），质谱解析- 技巧与提示，LEIS的原理，全新M6 飞行时间二次离子质谱仪（ToF-SIMS），LEIS的定量分析，LEIS的深度信息，二维成像 - 技巧与提示，M6 Hybrid SIMS，LEIS的溅射深度剖析