非接触式测厚仪

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2021-04-13 14:47:58
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美国Lumetrics研发的高精度非接触式测厚仪,采用白光干涉原理,可快速测量12μm-80mm 透光材料的厚度,精度为0.1μm,测单层和多层厚度(20层),可选多探头配置,内部自校准, NIST追溯。
专业代理欧美(美国、加拿大、德国、英国、瑞士等)高精度的光学检测设备,致力于为科研和工业客户提供一流的光学检测解决方案。
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