芯片失效分析案例分享

1.3万
1
2026-05-15 15:43:20
267
73
937
44
第五届半导体先进封装检测及失效分析技术进展网络研讨会:芯片失效分析案例分享,北软芯片失效分析实验室,#检测 #半导体 #显微镜
Decap,X-RAY,SAT,IV,FIB,EMMI,SEM,EDX,Probe,OM,Rie微信icfa88
接下来播放
自动连播
客服
顶部
赛事库 课堂 2021拜年纪