蔡司三维X射线显微镜工业CT等光模块封装内部缺陷检测
蔡司一级代理昆山友硕
2026年04月03日 11:23
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  光模块遵循芯片—组件(OSA)—模块的封装顺序。激光器芯片和探测器芯片通过传统的TO封装形成TOSA及ROSA,同时将配套电芯片贴装在 PCB,再通过精密耦合连接光通道和光纤,最终封装成为一个完整的光模块。新兴的主要应用于短距多模的COB采用混合集成方法,通过特殊的键合焊接工艺将芯片贴装在PCB上,采用非气密性封装。

  未来技术的发展趋势中带来的质量挑战?

  01 芯片内部的缺陷检查

  02 热传感器缺陷检查

  ▲在连接垫上未发现任何裂纹。但传感器内部有许多空洞。

  ▲桥连

蔡司X射线显微镜解决方案:VersaXRM 615

  ▲蔡司解决方案:蔡司三维X射线显微镜 VersaXRM 615

  ZEISS Versa 蔡司3D X射线显微镜(XRM)可为各种材料和工作环境提供卓越的三维图像质量和数据。该系统具有基于同步加速器口径光学器件的两级放大倍率以及RaaD™(大工作距离下的高分辨率)技术,在较长的工作距离下依然保持优异的分辨率。无损成像技术可以保持并延长样品的使用时间,从而满足四维和原位研究需求。昆山友硕是蔡司官方授权代理商,业务涵盖:蔡司三坐标测量机、工业CTX-RAY断层无损测量,光学三维3D扫描仪、扫描电镜等设备。

03 芯片光波导距离测量

  蔡司显微镜解决方案:Axio Imager2

  ▲蔡司解决方案:蔡司显微镜Axio Imager2

  ZEISS Axio Imager 2为要求苛刻的材料分析任务、新材料开发以及常规质量控制和颗粒分析而定制的系统平台。通过自动化工作流程获得可重复的结果和高生产率,最高放大倍率可达7500倍,可满足具有挑战性的分析要求。ZEISS Axio Imager 2具有高度适应性,是多模式工作流程的核心。

  04 导热胶缺陷检查

  05 锡球缺陷检查

蔡司工业CT 解决方案:METROTOM

  ▲ 蔡司工业CT ZEISS METROTOM 1500 工业计算机断层扫描技术

更高的图像质量

  高分辨率与可追溯精度,蔡司METROTOM 1500展现了卓越的图像效果,即便是极细微的缺陷也能清晰呈现。AMMAR、BHC软件以及蔡司scatterControl硬件模块共同保障了无可挑剔的质量。此外还严格遵循VDI/VDE 2630标准中可追溯精度的要求。

小结

  光模块是现代通信的质量担当。它的质量与数据传输的稳度与速度息息相关,不管是交换机还是服务器,都离不开它的硬核支撑。从“芯片—组件—模块”的精密封装,到新兴COB封装的工艺严控,每一步都藏着质量密码。