众所周知，同步辐射XAFS能够精准的进行配位结构和电子结构解析，在材料、能源、环境等研究领域扮演着越来越重要的角色，也成为了研究结构、解释机理的必备表征手段。近年来，XAFS在国内外各大小课题组研究过程中有着越来越普及的趋势，但是如同其他多种表征一样，数据解析所涉及的专业知识相对深奥，经验的获得并非一蹴而就，尤其是对于像同步辐射XAFS这样相对比较复杂的技术而言。

为了让大家零基础快速入门同步辐射数据拟合，我们整理了数据处理的相关资料，内容包括同步辐射数据处理与软件应用，同步辐射的基础知识，同步辐射的相关书籍，同步辐射的相关课件，同步辐射干货合集，更有软件使用教学视频，希望能够帮助大家迅速成为同步辐射技术达人。 

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软件应用

首先将Demeter压缩包解压安装得到数据处理软件Athena、 Artemis、Hephaestus。注意安装路径中不能有中文及特殊字符！！

安装后：

 完成后生成三个图标，分别是：

① Athena程序包，用于原始数据处理（初步的数据导入，校正，归一化处理）；

② Artemis程序包，用于数据拟合（校正完的数据导入，拟合得到这些数据的配位数，配位键长，无序度因子等结构参数）；

③ Hephaestus，同步辐射相关数据库（用于查询待测元素测试边带等信息）。

数据处理

1、导入数据：在导入数据前，观察数据的抬头信息，确认好数据的打开方式。一般在信息中包括测试的线站，测试的模式数据等。

选择合适的设置，打开数据。

2、校正数据：通过校正吸收边E0对数据的参比（Reference）进行校正（Calibrate data）。

、

然后校正样品。

 权重k-weight的选择，边前Pre-edge，边后Post-edge（根据数据情况选择调整）；K-Range(数据质量较好选择3-14/3-12，数据质量一般选3-10，质量较差选3-9/2-8（慎重使用）。

R-Range(一般选择1-3，根据峰位置自行调整)；

上述均在Athena调整处理好，保存为Prj文件，后续导入Artemis进行拟合。