某KOL使用该延迟测试器进行延迟测试，然后进行完全不知道怎么算权重的打分之后排名，怎么打分的我懒得研究了，总之结果就是使用XX方案的磁轴键盘在他排行榜头部位置霸榜，而某些性能优秀受到广泛认可的磁轴键盘在他那里直接排行垫底

该KOL反复强调自己使用的是开源的测试器，那么，开源的测试器就是没问题的测试器吗？

接下来研究一下这个测试器

测试环境

在查看测试器源代码，原理图和查看LDO输出电压波形-线圈电流波形和线圈磁力大小之后我发现一大堆问题，挑最严重的说

仿真点击测试波形，红色LDO输出电压，蓝色测试线圈电流，黄色USB分析仪触发输出高电平按下低电平释放

该测试器的测试过程是先设置DAC输出到2000（经过LDO电路输出后最终对应线圈磁力大小约等效于磁玉轴按到1.8mm处的磁力大小），然后在按预设波形调整DAC输出到3500（等效于磁玉轴按到1mm处的磁力大小），在这过程中测量抬起延迟，保持DAC输出在3500一段时间后调整到2000在这过程中测量触发延迟

简单来说就是测试器电磁线圈的模拟轴体先按到1.8mm处准备开始测试，然后抬起到1mm的位置过程中测量抬起延迟，在从1mm按到1.8mm的过程中测量触发延迟。

这个测试器不从最顶部按压测试触发延迟，不从最底部抬起测量抬起延迟，而是从1~1.8mm中间区段来回抽进行测试，特意避开顶部区域和底部区域。

为什么测试区域特意避开顶部和底部区域我不知道，但是某KOL头部位置霸榜的磁轴方案在我这里测试的顶部区域的多键触发延迟一直很高，这个延迟高到甚至不需要额外构建精密的机械设备用我开源的测试器直接拿手按都能得出这个结论

这个测试器线圈磁力全程在1到1.8mm之间扫掠还会带来另一个问题---键盘校准，大多数键盘会在上电后读取未按下按键时的顶部磁力大小，然后在用户正在按下过程中间记录底部磁力大小，然后依靠这两个点标定轴体的磁力范围完成校准，在完成这个校准之前键盘的实际触发释放距离都会比设定的大，这是为了防止自动触发等一系列问题，然而这个测试器全程最大产生的磁力大小只在1.8mm左右，远没有达到正常轴体3.5mm处的磁力范围，如果有自动校准保护的磁轴键盘没有针对这个测试器做针对性调参，那么结果就是测试器最高只按到1.8mm无法完成校准➡️实际触发释放距离并不是最低值➡️测试成绩差。

而且这个未完成校准导致的测试误差还会被测试器所用的电磁线圈进一步放大，学过高中物理的都知道：LR电路里，电流是按指数规律滞后的。我用电流探头实测，线圈电流最大滞后于LDO输出电压变化约1-2毫秒，而且这个滞后是非线性的——触发或释放距离越大的键盘，在对应电流阈值处的滞后就越明显，成绩自然更差。

红色ldo输出电压，蓝色电流，一格1ms

相反地，这一点如果被别有用心的厂家针对性适配，那么测量到的延迟将会大大降低-只需要在1到1.8毫米这个区间里，把RT逻辑调到最激进，就能在测试器上跑出很低的延迟。但这个延迟跟真实使用体验，完全两码事。

综上，这个测试器的仿真点击模式，在测试逻辑上与真实人手按压存在根本性差异——它在一个狭窄的中间键程区间里来回扫掠，避开了顶部的高延迟区和底部的防断触处理区。再加上线圈电流滞后引入的非线性误差，使其极易被厂商通过针对性调参拿到虚高成绩。因此我认为，这个测试器测出来的磁轴键盘延迟，不具备参考价值。